Раздел 7

Масс-спектрометрический метод анализа

Масс-спектрометрический (МС) анализ используется в различных областях науки и техники. С помощью МС-анализа были открыты изотопы и впоследствии установлен изотопный состав всех элементов периодической системы; измерены с высокой точностью массы атомов, молекул и обнаружены их дефекты; выявлена тождественность изотопного состава элементов в земной коре и в космических объектах; определены периоды полураспада некоторых радиоактивных изотопов; по накоплению в природных материалах изотопов свинца, стронция и аргона измерен абсолютный возраст геологических образований.

Современная масс-спектрометрия является одним из наиболее тонких и чувствительных методов анализа вещества и характеризуется самыми низкими пределами обнаружения следов элементов при их одновременной регистрации [1–12] (табл. 7.1). МС-методом определяют элементный и молекулярный состав различных природных и синтезированных веществ [2, 8, 13], исследуют кинетику химических реакций и измеряют энергию связи между атомами и между молекулами [14–18], идентифицируют химические соединения и расшифровывают структуру молекул [4, 5, 19, 20], измеряют наличие микропримесей на уровне менее 10–8% в полупроводниковых материалах и металлах [21–23]. Неоценима роль элементной и молекулярной МС-анализ в современной медицине [1, 5, 24], микробиологии [3, 10, 11] и экологии [4, 7, 12, 25, 26]. По темпам развития, по технической оснащенности и по использованию в различных областях науки МС-метод занимает в последнее десятилетие одно из первых мест [1]. Это стало возможным благодаря широкому применению искровой и лазерной масс-спектрометрии [10, 11, 25, 27], сочетанию МС-анализ с газовой хроматографией в режиме on-line [6, 26, 28] и особенно созданию масс-спектрометров, в которых для генерации ионов использованы тлеющий разряд и индуктивно-связанная плазма [2, 7–9, 21, 29–32]. С появлением приборов, работающих на принципе ионно-циклотронного резонанса с Фурье-преобразованием, стало вполне реальным получать разрешение по массе 290000 и более, что дает возможность легко разделять сложные ионы с одинаковыми массовыми числами, не прибегая к стандартным образцам [16, 22, 33–36].

Таблица 7.1

Пределы обнаружения изотопов некоторых элементов при анализе воды МС-методом, нг ∙ мл–1 [2]

Элемент

Масса, а.е.м.

Предел обнаружения

Элемент

Масса, а.е.м.

Предел обнаружения

Li

6

0,05

Mo

95

0,01

7

0,005

96

0,01

B

10

0,2

97

0,02

11

0,05

98

0,005

Al

27

0,005

100

0,02

V

51

0,1

Ba

135

0,02

Cr

52

0,005

137

0,01

53

0,05

138

0,002

Mn

55

0,002

U

235

0,03

Co

59

0,002

238

0,005

Cu

63

0,005

Pb

206

0,01

65

0,01

207

0,01

Zn

66

0,02

208

0,005

Rb

85

0,01

Cd

110

0,01

112

0,005

114

0,005

Разрешающая способность масс-спектрометра характеризует возможность раздельной регистрации ионов, близких по массам, и определяется величиной Rk = M/D M, где D M — минимальная разность масс однозарядных ионов, регистрируемых прибором раздельно, вблизи массы М. Величина Rk рассчитывается (рис. 7.1) по формуле

, (7.1)

где M1 и M2 — массы соседних ионов в а.е.м.; l — расстояние между пиками M1 и M2 ; a и b — ширины пиков на высоте kh (k определяется долей высоты пика: при уровне 10% k = 0,1; при уровне 50% k = 0,5); h1 и h2 — высоты пиков (интенсивность линий).

Рис. 7.1. Определение разрешающей способности
масс-спектрометра

В соответствии с величиной R10% масс-спектрометры условно подразделяют по разрешающей способности:

R10% £ 100 — низкая, 100 < R10% < 1000 — средняя и R10% ³ 1000 — высокая.

Во многих типах масс-спектрометра разрешение ухудшается по мере увеличения массы ионов. Поэтому показателем качества прибора служит «единичное разрешение» — наибольшая величина массы иона, при которой достигается разделение двух пиков одинаковой высоты. Если этому критерию, например, удовлетворяют массы от 1000 до 1001, то говорят, что такой прибор имеет разрешение 1000. «Единичное разрешение» магнитного масс-спектрометра может достигать 6000, а спектрометра с двойной фокусировкой — 80000 и более.

 


7.1. Источники ионов

В зависимости от свойств анализируемых веществ и характера решаемой задачи ионы атомов и молекул могут быть получены несколькими способами, в том числе: электронным ударом, бомбардировкой поверхности пробы пучком электронов, ионов или нейтральных атомов, испарением с накаленных металлических поверхностей, фотоионизацией, в газовом разряде, в вакуумном высоковольтном разряде, плазменными методами. Многие из этих способов оформлены в виде конструкций, дающих возможность ионизировать вещества в газовой, жидкой и твердой фазах, обеспечивать более или менее одинаковую ионизацию всех компонентов смеси или селективное усиление ионизации веществ определенной структуры, получать положительные и отрицательные ионы. Разнообразие способов ионизации является одной из сильных сторон масс-спектрометрии, что дает возможность в зависимости от задач исследования и природы веществ менять вид воздействия на молекулы.

От источника ионов в значительной степени зависят такие важные характеристики масс-спектрометра, как чувствительность, пределы обнаружения и определения, правильность анализа и селективность. Чувствительность обусловлена эффективностью ионизации, «светосилой» прибора и определяется как отношение количества ионов данного типа, достигнувших детектора, к массе молекул этого же типа, помещенных в источник ионов. Наименьшая масса вещества в пробе, при которой наблюдается над фоном аналитический сигнал на выходе прибора, принимается как предел обнаружения. Эта характеристика приводится при оценке возможностей различных типов спектрометров, а также при сравнении методов анализа. Минимальное содержание анализируемого компонента в пробе, которое может быть измерено с заданной погрешностью, характеризует предел определения для данного прибора. Предел определения зависит не только от предела обнаружения, но и от стабильности основных функциональных узлов масс-спектрометра. Такая характеристика, как селективность, зависит от используемого способа ионизации, поскольку эффективность ионизации одних молекул может быть значительно больше, чем других. Селективность определяет величину коэффициента относительной чувствительности (КОЧ).

При проведении элементного анализа различных веществ важнейшим требованием является высокая правильность полученных результатов, которая зависит от дискриминации конкретного метода или прибора и от стабильности КОЧ. Правильность определения оценивается отклонением результата измерений от надежно установленного действительного содержания вещества в пробе и проверяется анализом стандартных образцов, состав которых измерен различными методами.

 

7.1.1. Источники с электронным ударом (ЭУ)

Одним из первых и наиболее распространенным вплоть до настоящего времени способов ионизации является ионизация электронным ударом (ЭУ) [37]. Источник ионов с ЭУ обычно имеет камеру ионизации, в которую вводят поток паров анализируемого вещества (рис. 7.2.). Перпендикулярно этому потоку камеру пересекает пучок ускоренных до заданной энергии электронов, эмитируемых нагретым рениевым или вольфрамовым катодом. Этот пучок электронов бомбардирует молекулы анализируемого вещества. Если энергия электронов больше потенциала ионизации молекулы, то с определенной вероятностью неупругие соударения приводят к образованию ионов в результате «выбивания» из молекулы одного из электронов: М + е ® М+ + 2е. Ионизация ЭУ имеет много достоинств: это, прежде всего, простота устройства источника ионов, хорошая воспроизводимость масс-спектров и высокая чувствительность. Абсолютная эффективность ионизации составляет 0,01–1% количества молекул, введенных в источник, а тепловой разброс ионов по энергиям находится в пределах 3–5 эВ, что позволяет достичь высокого разрешения (8000 и более) без применения масс-анализаторов с двойной фокусировкой. Вероятность ионизации ЭУ зависит от потенциала ионизации атомов и молекул (табл. 7.2; 7.3) и сечения ионизации (табл. 7.4).

Рис. 7.2. Схема ионного источника типа Нира:
1 — трубка напуска анализируемого газа;
2 — ионизационная камера; 3 — катоды;
4 — фокусирующий магнит; 5 —ускоряющийэлектрод;
6 — отклоняющие пластины; 7 — ионный пучок;
8 — вытягивающий электрод; 9 — электронный пучок;
10 — диафрагма напуска

Среди всех элементов наибольшими потенциалами ионизации обладают благородные газы He (24,56 эВ), Ne (21,559 эВ) и Ar (15,755 эВ), а наименьшими — такие элементы, как Cs (3,893 эВ), К (4,339 эВ), Ва (5,20 эВ) и Na (5,138 эВ).

Сечение ионизации зависит от энергии бомбардирующих электронов. Начиная от порога ионизации, сечение быстро растет и достигает максимальной величины в области энергий Ее = 50–150 эВ. Из благородных газов наименьшее сечение ионизации имеет Не (0,102× 10–16 см2) и наибольшее — Хе (6,42× 10–16 см2), а из других элементов большие сечения имеют металлы Cs (11,64× 10–16 см2), Ba (11,94× 10–16 см2), La (11,96× 10–16 см2), Се (11,70× 10–16 см2). Из этих примеров видно, что при одинаковой концентрации в парах такие элементы, как Cs, Ba, La и Ce, будут образовывать большее количество ионов, и их пики на масс-спектрограммах будут выше. Следовательно, для выполнения количественного анализа необходимо проводить калибровку прибора. Кроме того, сравнение масс-спектров, полученных разными авторами, возможно, только если использована одна и та же энергия ионизирующих электронов.

Таблица 7.2

Потенциалы ионизации элементов, эВ [48]

Элемент

Состояние ионизации

I

II

III

IV

V

VI

VII

VIII

H

13,595

             

He

24,580

54,493

           

Li

5,390

75,619

122,420

         

Be

9,320

18,206

153,850

217,66

       

B

8,296

25,149

37,920

259,298

340,13

     

C

11,264

24,376

47,854

64,476

391,986

489,84

   

N

14,54

29,605

47,426

77,450

97,863

551,925

666,8

 

О

13,614

35,164

54,934

77,394

113,873

138,080

739,133

871,1

F

17,42

34,98

62,646

87,23

114,214

157,117

185,139

953,60

Ne

21,559

41,07

63,43

97,16

126,4

157,91

207,3

239,0

Na

5,138

47,29

71,65

98,88

138,60

172,36

208,444

264,155

Mg

7,644

15,03

80,12

109,29

141,23

186,86

225,31

265,957

Al

5,984

18,823

28,44

119,96

153,77

190,42

241,93

285,13

Si

8,149

16,34

33,46

45,13

166,73

205,11

246,41

303,87

P

10,55

19,65

30,156

51,354

65,007

220,414

263,31

309,26

S

10,357

23,4

34,7

47,29

72,5

88,029

280,99

328,80

Cl

13,01

23,80

39,90

53,3

67,80

96,75

114,27

348,3

Ar

15,755

27,62

40,90

59,8

74,97

91,41

124,20

143,46

K

4,339

31,81

46,1

61,3

82,5

99,88

118,24

154,6

Ca

6,111

11,87

51,21

67,7

84,39

109

128

148,1

Sc

6,56

12,80

24,75

74,3

92,0

111,1

138

159,3

Ti

6,83

13,57

27,47

43,24

99,8

120

140,8

171

V

6,74

14,65

29,31

48

65,2

128,9

151

173,7

Cr

6,764

16,49

30,95

49,6

73,2

90,60

161,2

185

Mn

7,432

15,64

33,69

52

76,1

98

119,24

196,4

Fe

7,896

16,18

30,63

57,1

78

102

128

151,1

Co

7,86

17,05

33,5

53

83,5

106

132

161

Ni

7,633

18,15

35,2

56,0

78

110

136

166

Cu

7,723

20,29

37,0

58,9

82

106

140

169

Zn

9,391

17,96

39,7

62

86

112

142

177

Ga

6,00

20,53

30,7

64,1

90

118

144

174

Ge

7,88

15,93

34,23

4,7

93,4

113

148

177

As

9,85

20,2

28,1

50,1

62,8

127,5

150

182

9,750

21,4

32,0

42,9

73,1

81,8

155

187

Br

11,84

21,6

35,9

50

60

87

104

193

Kr

13,996

24,58

37,0

52

66

80

110

127

Rb

4,176

27,4

39,3

52

71

86

102

134

Sr

5,692

11,03

43,0

57

72

93

109

126

Y

6,6

12,3

20,5

62

76,9

94

117

135

Zr

6,95

14,03

24,11

33,99

83

98,8

118

143

Nb

6,77

13,5

28,1

38,3

49,5

103

125

145

Mo

7,18

15,2

27,0

40,5

56

72

125

153

Tc

7,45

15

29

43

59

76

94

162

Ru

7,5

16,4

28,6

46,5

63

81

100

119

Rh

7,7

18,1

31,0

45,6

67

85

105

126

Pd

8,33

19,9

33,4

48,8

66

90

110

132

Ag

7,574

122,0

39,7

52

70

89

116

139

Cd

8,991

16,92

38,2

55

73

94

115

146

In

5,785

18,87

27,8

58

77

98

120

144

Sn

7,332

14,63

30,6

39,6

81,1

103

126

150

Sb

8,64

16,7

24,8

44,0

55,8

107,6

132

157

Te

9,01

18,8

30,6

37,9

60,3

72,3

137,1

164

I

10,44

19,5

31,4

41,7

52

77

90

169,9

Xe

12,127

21,2

32,1

45,5

57

68

96

110

Cs

3,893

23,5

35

45,5

62

74

86

117

Ba

5,210

10,01

35,7

48,8

62

80

93

106

La

5,61

11,43

19,2

52

66

80

100

114

Ce

6,9

12,3

20

33,5

70

85

100

122

Pr

5,76

10,55

20,96

   

89

106

122

Nd

6,3

10,72

20,51

     

110

128

Pm

5,554

10,90

22,0

       

135

Sm

5,7

11,4

24,0

         

Eu

5,67

11,3

24,56

         

Gd

6,16

12,1

21,3

         

Tb

6,7

11,52

21,02

         

Dy

6,8

11,67

21,83

         

Ho

6,018

11,80

22,2

         

Er

6,101

11,93

22,4

         

Tm

6,184

12,05

23,9

         

Yb

6,26

12,11

25,61

         

Lu

5,425

13,9

23,7

         

Hf

6,65

14,9

21

31

       

Ta

7,89

16,2

22,3

33,1

43

     

W

7,98

17,7

24,1

35,4

48

61

   

Re

7,87

16,6

26,0

37,7

51

64

79

 

Os

8,7

17

25

40

54

68

89

99

Ir

9,2

17

27

39

57

72

88

104

Pt

8,96

18,56

28,5

41,1

55

75

92

109

Au

9,223

20,1

30,5

43,5

58

73

96

114

Hg

10,434

18,761

34,21

46,0

61

77

94

120

Tl

6,106

20,43

29,8

50,7

64

81

98

116

Pb

7,415

15,03

32,0

42,3

69,73

84

103

122

Bi

8,3

16,7

25,4

45,3

56,0

94,42

107

127

Po

8,4

18,2

28

38

61

73

112

132

At

9,5

18,2

30

41

51

78

91

138

Rn

10,745

19,9

29,8

43,8

55

67

97

111

Fr

4,0

21,5

32

43

59

71

84

117

Ra

5,277

10,15

34,3

46,4

58,5

76

89

103

Ac

5,17

11,5

18,9

49

62

76

95

109

Th

6,08

11,5

18,7

33,6

65

80

94

115

Pa

5,89

11,3

20,5

36,4

 

84

100

115

U

6,05

11,6

20,5

36,89

   

104

121

Таблица 7.3

Вертикальные потенциалы ионизации (ПИ) нейтральных веществ [96]

Вещество (R)

ПИ, эв

Вещество (R)

ПИ, эв Вещество (R) ПИ, эв Вещество (R) ПИ, эв

1. Неорганические вещества

C5H8   C10H8   С4Н4O (Фуран) 8,89

Н

13,6

1,2-Пентадиен

9,42

Нафталин 8,12 2Н5)2О 9,53

D

13,6

1,3-Пентадиен

8,68

Азулен 7,43

С4Н8О (Тетрагидрофуран)

9,42

Н2

15,42

2,3-Пентадиен 9,26

Cl0H18 (Декалины)

  C4H8O2
(n-Диоксан)
9,13

D2

15,46

1,4-Пентадиен

9,58

цис-

9,61 C6H5OH 8,50

Не

24,6

Циклопентен 9,01 транс- 9,61 С6Н4О2
(n-Бензохинон)
9,67

Ne

21,8

C5H10

  C12H10 (Бифенил) 8,27 С6Н5ОСН3 8,20

Ar

15,75

1-Пентен

9,50

С14Н10   С6Н5CHO 9,51

Kr

14,0

цис-2-Пентен

9,11

Дифенилацетилен 8,85 С6Н5CОСН3 9,27

Xe

12,13

транс-2-Пентен 9,06 Антрацен 7,55 6Н5)2O 8,82
F2 15,7 2-Метил-1-бутен 9,12 Фенантрен 8,10 6Н5)2СО 9,46
Cl2 11,48 2-Метил-2-бутен 8,67

3. Соединения с гетероатомами

НСОNH2 10,25
Br2 10,53 Циклопентан 10,9 N2 15,56 СН3СОNH2 9,77
I2 9,28 C5H12   3 10,15 С6Н5СОNH2 9,4
HF 15,77 Пентан 10,35 NO 9,25 С6Н5NНСОСН3 8,39
НСl 12,74 Изопентан 10,32 N2O 12,89 СН3NO2 11,08
НВг 11,62 Неопентан 10,35 NO2 9,78 C6H5NO2 9,92
НI 10,38 С6Н4 (Дигидробензол)

9,75

СН3NH2 8,97 C6H6N2O2
(n-Нитроанилин)
8,85
2. Углеводороды С6Н6 (Бензол)

9,25

СН2N2
(Диазометан)
8,99 C6H5NO3
(n-Нитрофенол)
9,52
С 11,3 C6D6 (Бензол-D6)

9,25

СН2CN 12,21 СН3Сl 11,26
CH3· 9,82 C6H10 (Циклогексен) 8,94 С2Н52 8,86 СН3Вг 10,53
CH4 12,70

С6H12

  (СН3)2NH 8,24 СН3I 9,54
CD4 12,88

1-Гексен

9,45

СН2CHCN 10,91 C6H5F 9,19
C2H2

11,40

2,3-Диметил-2-бутен 8,30 С2Н2CN 11,84 C6H5Cl 9,07

C2D2

11,42

Циклогексан 9,88 C2H6N2
(Азометан)
8,65 C6H5Br 8,98

С2H4

10,51

С6Н14   (СН3)3N 7,82 C6H5I 8,62

С2Н6

11,52

Гексан 10,18 C4H5N (Пиррол) 8,20 (СН3)4Si 9,5

C3H4

  Изогексан 10,12 C5H5N (Пиридин) 9,23 H2S 10,42

Аллен

10,2

3-Этилбутан 10,08 C6H5NH2
(Анилин)
7,69 CS2 10,08

Пропин

10,38

С7Н8   C6H5CN
(Бензонитрил)
9,71 SO2 12,34
Циклопропен 9,95 Толуол 8,82 C6H5СН22 7,56 CH3SH 9,44
C3H6   Циклогептатриен 8,65 (C6H5)2 7,25 (СН3)2S 8,68
Пропен 9,73 С7Н10 (Норборнен) 9,0 (C6H5)3N 6,86 C4H4S (Тиофен) 8,86
Циклопропан 10,1 С7Н14 (Метилциклогексан) 9,85 O2 12,06 C6H5SH 8,32
С3Н8 11,14 C7H16 (Гептан) 9,90 O3 11,7 C6H5SСН3 8,9
С4Н2 (1,3-Бутадиин) 10,2 C8H6 (Фенилацетилен) 8,82 H2O 12,61    
C4H6   С8H8   D2O 12,64    
1,2-Бутадиен 9,57 Стирол 8,47 CO 14,01    
1,3-Бутадиен 9,08 Циклооктатетраен 7,99 CO2 13,79    
1-Бутин 10,18 Кубан 8,74 CH2O 10,90    
2-Бутин 9,9 С8H10   СН3ОН 10,85    
C4H8  

Этилбензол

8,76 НСООН 11,05    
1-Бутен 9,58 о-Ксилол 8,56 СН3СНО 10,21    
цис-2-Бутен 9,13 м-Ксилол 8,56 СН3ОСН3 9,96    
транс-2-Бутен 9,13 n-Ксилол 8,44 СН3СН2ОН 10,48    
Изобутен 9,23 C8H18 (Изооктан) 9,86 СН3СООН 10,35    
Циклобутан 10,58 C9H12
(Триметилбензол)
  СН3СОСН3 9,69    
С4Н10   1,2,3- 8,48 СН3СООСН3 10,27    
Изобутан 10,57 1,2,4- 8,40 СН3СН2СНО 9,98    
C5H6 (Циклопентадиен) 8,9 1,3,5- 8,39 СН2СНСН2ОН 9,67    

 

При ионизации ЭУ образовавшийся ион находится в возбужденном состоянии и может распадаться на различные фрагменты в зависимости от величины переданной электроном энергии, условий локализации заряда и наличия «слабых мест» в структуре молекулы [13] (рис. 7.3.). Из-за значительной фрагментации масс-спектры некоторых соединений не содержат пика молекулярного иона, что является одним из недостатков ионизации ЭУ. Уменьшение энергии ионизирующих электронов приводит к увеличению относительной интенсивности пиков молекулярных ионов и к уменьшению, а иногда и полному исчезновению пиков осколочных ионов. При этих условиях получаются малолинейчатые спектры, которые используют для выявления пиков молекулярных ионов. Однако при уменьшении энергии бомбардирующих электронов резко снижается эффективность ионизации, и поэтому на практике приходится искать компромисс между требованием уменьшения пиков осколочных ионов и необходимостью сохранения чувствительности прибора.

Таблица 7.4

Максимальные сечения ионизации (Q) химических
элементов, 10–16 см2 [48]

Элемент

Q

Элемент

Q

Элемент

Q

Элемент

Q

Н

0,234

Fe

4,71

Sb

6,94

Os

7,11

Не

0,102

Co

4,28

Те

7,31

Ir

7,10

Li

3,50

Ni

3,99

I

6,92

Pt

7,17

Be

1,92

Сu

4,06

Xe

6,42

Au

6,46

В

2,11

Zn

3,17

Cs

11,46

Hg

5,34

С

1,73

Ga

5,12

Ba

11,94

Tl

7,11

N

1,38

Ge

5,20

La

11,96

Pb

7,34

O

1,31

As

4,87

Ce

11,70

Bi

8,40

F

1,02

Se

5,16

Pr

10,91

Po

8,39

Ne

0,820

Br

4,60

Nd

10,68

At

8,36

Na

4,27

Кr

4,12

Pm

10,43

Rn

7,94

Mg

3,44

Rb

8,93

Sm

10,23

Fr

12,04

Al

5,43

Sr

8,88

Eu

9,86

Ra

12,15

Si

4,94

Y

8,64

Gd

9,53

Ac

12,90

P

4,20

Zr

7,90

Tb

9,50

Th

12,91

S

4,10

Nb

8,29

Dy

8,82

Pa

12,01

Cl

3,38

Mo

7,39

Ho

8,62

U

11,62

Ar

2,83

Tc

6,31

Er

8,39

Np

11,24

К

7,67

Ru

7,20

Tm

8,43

Pu

10,00

Са

7,05

Rh

6,61

Yb

7,80

Am

9,72

Sc

6,56

Pd

6,55

Lu

8,43

Cm

10,19

Ti

5,97

Ag

5,44

Hf

7,76

Bk

9,88

V

5,58

Cd

4,57

Та

7,41

Cf

8,47

Cr

5,45

In

6,74

W

7,07

Mn

4,56

Sn

7,01

Re

7,25

Рис. 7.3. Масс-спектр этилена (* — линия, обусловленная вкладом изотопа 13С)

Масс-спектрометр с ионизацией ЭУ особенно подходит для анализа органических соединений в органическом синтезе, нефтехимии, медицине, биологии, а также при анализе загрязнений окружающей среды [13, 40], т.к. дает возможность получить общую характеристику неизвестного соединения по масс-спектру, содержащему пики как молекулярных, так и осколочных ионов. Следует отметить, что основной материал по масс-спектрометрии органических соединений разных классов, накопленный и представленный в каталогах, — это, главным образом, масс-спектры, полученные при анализе ЭУ. Поэтому автоматические системы обработки результатов масс-спектрометрических измерений, использующие библиотечный поиск, ориентируются именно на эти данные [81–87].